NI半导体测试平台

对于模拟、混合信号和RF测试,传统ATE的测试覆盖范围往往无法跟上半导体技术需求变化的脚步。

许多半导体的检验与特性实验室,都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序,而生产测试单位则使用完整、高效通的昂贵自动化测试设备ATE来完成。 从实验室到产线所采用的的测试方法不同,很难能够进行很好的关联(correlation),使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一 的测试平台,可因设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能,进而降低成本。

活动规则

1、活动时间2018年6月20日至2018年8月20日;
2、正确回答所有问题并填写个人资料,即可获得抽奖资格;
3、活动流程:阅读参考资料--->回答问题--->提交信息--->等候公布获奖名单;
4、所有奖品于活动结束后14个工作日内寄出;
5、请务必提供准确报名信息,因信息不全导致在活动结束前无法与您取得联系,
     将视为自动放弃领奖机会;
6、活动最终解释权归AET网所有。

参考资料

2018半导体测试解决方案

NI半导体测试系统STS_Flyer_CN

功率放大器和射频前端模块的测量

在数字预失真和动态电源条件下测试PA

活动奖品展示