对于模拟、混合信号和RF测试，传统ATE的测试覆盖范围往往无法跟上半导体技术需求变化的脚步。
许多半导体的检验与特性实验室，都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序，而生产测试单位则使用完整、高效通的昂贵自动化测试设备ATE来完成。 从实验室到产线所采用的的测试方法不同，很难能够进行很好的关联（correlation）,使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一
的测试平台，可因设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能，进而降低成本。
1、活动时间2018年6月20日至2018年12月31日；
2、正确回答所有问题并填写个人资料，即可获得抽奖资格；
3、活动流程：阅读参考资料--->回答问题--->提交信息--->等候公布获奖名单；
4、所有奖品于活动结束后14个工作日内寄出；
5、请务必提供准确报名信息，因信息不全导致在活动结束前无法与您取得联系，
将视为自动放弃领奖机会；
6、活动最终解释权归AET网所有。
